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Lab Mueller Matrix Spectroscopic Ellipsometer for Semiconductor Film Structure and Periodic Nanostructure

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Haupteigenschaften

Weitere

Maßgeschneiderte unterstützung
OEM
Ursprungsort
Henan, China
Energie
Elektronische
Garantie
1 JAHR
Markenname
CYKY
Modellnummer
CY-SE-L
Ellipso metrische Parameter
Psi: 0-90 °, Delta: -90-270 °
Wellenlängen bereich der Lichtquelle
380-1000nm
380-1000nm
Durchmesser 200μm
Messzeit
<15s
Mess winkel
45-90 °
Fokussierung funktion
0-20mm, automatische Fokus findung
Genauigkeit der Wiederholbar keit der Film dicke
Besser als 0,005 nm
Depolarisation genauigkeit
± 0.5%
Produktname
Spektroskop isches Ellipso meter
Stichwort
Ellipso meter zur Film dicken analyze

Bearbeitungszeit

Produktbeschreibung des Lieferanten

 

Produkt beschreibung

SE-L ist ein voll automatisches hochpräzises Mueller-Matrix-Ellipso meter in wissenschaft licher Forschung. Es hat: (1)Vollständige Mueller-Matrix-Messtechnik, (2)Synchron steuerung des Doppel rotations kompensatorsTTechnologie,(3)Super achromat ische Kompensator-Design-Technologie,(4)Nanometer Gitter Charakterisierung Messtechnik und andere Technologien. Es kann verwendet werden, um die Film dicke verschiedener isotroper/anisotroper Dünnschicht materialien, optischer Nano grat konstanten und ein dimensionaler/zwei dimensionaler Nanograting-Materials trukturen zu charakterisieren und zu analysieren.

Technische Parameter

Ellipsometrische Parameter

Psi: 0-90°, Delta: -90-270°

Wellenlängen bereich der Lichtquelle

380-1000nm

Modulation stech no logie

Doppel rotations kompensatorPCr1SCr2AModulation stech no logie

Spot größe

Φ200μm

Messzeit

<15s

Messwinkel

45-90°

FokussierungFunktion

0-20mm

Visuelles Nivel liers ystem

SUpports visuelle Hilfs ausrichtung und Nivellierung der Probens tufe

Wiederholbar keit der Film dicke Genauigkeit

Besser als 0,005 nm

Refraktive Index wiederholbar keit Genauigkeit

Besser als 0,0002

Absolute Genauigkeit

Besser als m = 0 ± 0,005

Depolarisation genauigkeit

±0.5% 

Depolarisierung Korrektur

Richtige halbe maximale Breite Bandbreite, ungleich mäßige Dicke, ungleich mäßige und nicht-Null-Ordnung Lichts treuung Angular depolarizatioN.

Probens tufe

Es hat eine fünf dimensionale Einstellung von X/Y/Z/Rz und Pitch und unterstützt die Vakuum adsorption und die feste Messung von Proben bis zu 200mm.

Daten modellierung

Bitte kontaktieren Sie uns für weitere Informationen

Gitter messung

Bitte kontaktieren Sie uns für weitere Informationen

Analyse von Software

Bitte kontaktieren Sie uns für weitere Informationen

Verpackung & Versand

Plastik papier innen, poly foam gefüllt, hölzernBox außerhalb Oder als Ihre Anforderung.

Versand und Transport als Kundenwunsch. Im Allgemeinen sind unsere Transport mittel auf dem Seeweg, auf dem Luftweg oder auf der Schiene.

 

Unternehmens informationen

Zhengzhou TAINUO Film Materials Co., Ltd. beschäftigt sich haupt sächlich mit der Forschung und Entwicklung, dem Design, der Herstellung und dem Vertrieb von Geräten, die in wissenschaft lichen Forschungen verwendet werden. Unsere Hauptprodukte umfassen: PVD-Magnetron-Sputter-Coater, Plasma-Sputter-Coater, Verdampfung Coater, Spin Coater, Dip-Coater, Tape Casting Coater, Plasma-Reiniger, metallo graphische Cutter, Läpp-und Polier maschine, Dental ofen, CVD-Rohr Ofens ystem, Elektro spinn system und so weiter.

Teilweise Unternehmens produkte

 

Kontakt informationen

Bitte zögern Sie nicht, uns eine Anfrage zu stellen!

 

Unsere Dienstleistungen

1. antworten Sie Ihrer Untersuchung in 24 Arbeits stunden.
2. erfahrene Mitarbeiter beantworten alle Ihre Fragen in fließendem Englisch.
3. kunden gebundenes Design ist verfügbar.
4. Exklusive und einzigartige Lösung kann unseren Kunden von unseren gut ausgebildeten und profession ellen Ingenieuren und Mitarbeitern zur Verfügung gestellt werden.
5. profession elle Fabrik: Wir sind Hersteller, spezial isiert auf Laborgeräte.

FAQ

 

 

Mindestbestellmenge: 1 Satz
77.802,32-106.978,19 €

Ausführungen

Insgesamt:2 Verbrauch.
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Verbrauch(2)

film thickness analysis
Semiconductor film structure

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